surcon 2D advanced

Oberflächeninspektion

Oberflächen inspektion

Bestimmte Defekte verändern unter verschiedenen Winkeln betrachtet ihr Aussehen. Der Einsatz einer zusätzlichen Dunkelfeldkonfiguration macht sich diesen Umstand zu Nutze und führt im Resultat zu einer noch präziseren Fehlererkennung.

Dabei stellt eine parallele Bildaufnahme sicher, dass kein Defekt übersehen wird. Der modulare Aufbau aller IMS surcon 2D Oberflächeninspektionssysteme ermöglicht das unkomplizierte Nachrüsten eines zusätzlichen Dunkelfeldmoduls.

Ein zusätzliches hochauflösendes Dunkelfeldmodul zur Hervorhebung jedes Fehlers wird besonders für Walzwerke, Beschichtungsanlagen, CGL CAL, und Dressierwalzwerke empfohlen.

100 % Online-Inspektion mit schnellen Zeilenkameras und Hochleistungs-LEDs

erweiterte automatische Fehlererkennung in unterschiedlichen Beleuchtungswinkeln

sofortige Erkennung von periodischen Defekten, die auf Rollenschäden hinweisen, unter Ausnutzung aller Bildkanäle

Besondere Merkmale

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Thomas Köpsel,
Dipl. Informatiker

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surcon 2D advanced

Oberflächeninspektion

Oberflächen inspektion

Technische Informationen

Materialdaten

Max. Geschwindigkeit:

bis zu 1.900 m/min für 0,4 mm Längenauflösung

Breite:

nicht limitiert

Länge:

Keine Einschränkung / kontinuierliche Inspektion möglich

Messsystemdaten

Konfiguration:

2D-Hellfeld und Dunkelfeld

Installationstyp:

fest installiert oder verfahrbarer C-Rahmen

Kameratyp:

CMOS Zeilenkamera / Gigabit Ethernet / Camera Link

Beleuchtungsquelle:

High Power LED 450nm / 630 nm / weiß

größer 500 W/m² bei 500 mm Arbeitsdistanz

Typische Arbeitsdistanz:

400-1.500 mm

Leistungsdaten

Chipgröße / Framerate:

bis zu 8.192 Pixel / bis zu 140 kHz

Typische Auflösung:

0,2 mm x 0,2 mm / 0,2 mm x 0,4 mm

Bildspeicher:

Oberflächenfehler in voller Auflösung

voller Hintergrund in reduzierter Auflösung

kurze Intervalle können in voller Auflösung gespeichert werden

Bildspeicherplatz:

typischerweise 25 TB (bis zu 55 TB)

Bilddatei:

offenes, verlustfrei komprimiertes TIFF-Format

Datenbasis:

Microsoft SQL Server

Auswertung

Klassifikation:

merkmalbasierte, vortrainierte KI

parallele Klassifikation mit mehreren Klassifikatoren

Merkmale für die Klassifizierung:

> 400 Merkmalswerte pro Defekt (unter Verwendung beider Bilder)

Qualitätsmanagement:

regelbasierte Qualitätseinstufung

Technische Information surcon 2D Oberflächeninspektion

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Produktkatalog IMS Messsysteme für Aluminiumwalzwerke

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IMS Messsysteme in Aluminium Warmwalzwerken