CCS
Planheits und Ebenheits-Messsystem
Planheits und Ebenheits-Messsystem
Die Planheit und Ebenheit sind entscheidende Schlüsselmerkmale für die Qualität von Flachprodukten in der Metallindustrie.
Entsprechend sind deren Messung und Kontrolle (Planheitsmessung und Ebenheitsmessung) wichtige Erfolgsfaktoren, welche die Qualität der hergestellten Produkte verbessern helfen sowie kritische Faktoren wie Prozessstörungen, Geräteschäden und eine Verschrottung fehlerhaft hergestellter Produkte reduzieren. IMS setzt für die berührungslose Planheits- und Ebenheitsmessung die weltweit einzigartigen und patentierten Camera-Cluster-Systeme (CCS) ein.
Diese Systeme messen und quantifizieren sowohl die Planheit als auch Ebenheitsfehler in Platten, Blechen sowie Bändern – online oder offline.
Planheit [I-Unit]
Ebenheit [μm oder mm]
optional
– „Box“ Höhenberechnung
– Berechnung des Querbogens
– Geschwindigkeits- / Längenmessung mit
Geschwindigkeitslaser
– DAkkS zertifizierter Kalibrierstandard
Besondere Merkmale
- zuverlässige IMS-Hardware gewährleistet einen langlebigen und wartungsarmen Betrieb in einer kompakten und leichten Konstruktion
- hochpräzise Messungen auf einer Vielzahl von Materialoberflächen (von matt bis glänzend)
- hohe Abtastraten durch hardwarenahe FPGA-Bildverarbeitung
- Messung unempfindlich gegen vertikale Verschiebung und Vibrationen
- Schnittstelle zu Regelungssystemen
- Online-Visualisierung der Ergebnisse und Berichterstellung über angepasste Ergebnisschnittstelle
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CCS
Planheits und Ebenheits-Messsystem
Planheits und Ebenheits-Messsystem
Technische Informationen
Materialdaten
Typischer Dickenbereich:
nicht begrenzt
max. Geschwindigkeit:
bis zu 350 m/min, aber nicht darauf beschränkt
Breite:
bis zu 2.400 mm, aber nicht darauf beschränkt
Länge:
nicht begrenzt / kontinuierliche Inspektion möglich
Messsystemdaten
Messgerätetyp:
fest montierter oder beweglicher, kundenspezifischer Rahmen
Strahlenquelle:
Laser (Sicherheitsklasse 2M)
Kameratyp:
CCS (16 Kameras pro Cluster)
Typische Arbeitsdistanz:
350 mm
Messdynamik
Abtastrate:
bis zu 1 kHz (abhängig von der Materialoberfläche)
Messgenauigkeit
Höhengenauigkeit:
besser als ± 0,05 mm (2 σ) möglich, abhängig von der Anwendung
Breitengenauigkeit:
bis zu 200 Messzonen pro Meter (5 mm Raster)
Messen.Inspizieren.Detektieren.
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