surcon 2D advanced
Oberflächen-Inspektionssystem
Oberflächen-Inspektionssystem
Bestimmte Defekte verändern unter verschiedenen Winkeln betrachtet ihr Aussehen. Der Einsatz einer zusätzlichen Dunkelfeldkonfiguration bei dem Oberflächen-Inspektionssystem surcon 2D advanced macht sich diesen Umstand zu Nutze und führt im Resultat zu einer noch präziseren Fehlererkennung.
Dabei stellt eine parallele Bildaufnahme sicher, dass kein Defekt übersehen wird. Der modulare Aufbau aller IMS surcon 2D Oberflächen-Inspektionssysteme ermöglicht das unkomplizierte Nachrüsten eines zusätzlichen Dunkelfeldmoduls.
Ein zusätzliches hochauflösendes Dunkelfeldmodul zur Hervorhebung jedes Fehlers wird besonders für Walzwerke, Beschichtungsanlagen, CGL CAL, und Dressierwalzwerke empfohlen.
100 % Online-Inspektion mit schnellen Zeilenkameras und Hochleistungs-LEDs
erweiterte automatische Fehlererkennung in unterschiedlichen Beleuchtungswinkeln
sofortige Erkennung von periodischen Defekten, die auf Rollenschäden hinweisen, unter Ausnutzung aller Bildkanäle
Besondere Merkmale
- zuverlässige IMS-Hardware und Gehäuse mit integrierter Kühlung gewährleisten einen langlebigen und wartungsarmen Betrieb
- maßgeschneiderte Lösungen und individuelle Anpassung an die örtlichen Gegebenheiten
- optionales, integriertes Gebläse zum Schutz des Systems vor Staub, Schmutz und Spritzwasser und zur Reduzierung des Wartungsaufwands
- optional als C-Rahmen für höchsten Komfort und einfache Wartung in Serviceposition lieferbar
- leistungsstarke Toolsets für Leistungsoptimierung und Datenauswertung
- wenden Sie die Oberflächeninspektion auf jeden Verarbeitungsschritt an, um eine schlüssige Ursachenanalyse durchzuführen
- Online-Visualisierung der Ergebnisse und Berichterstellung erfolgt über angepasste Ergebnisschnittstelle
- integriertes Qualitätsbewertungswerkzeug - erstellen Sie Ihre eigenen Regeln für die sofortige Ergebnisbewertung
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surcon 2D advanced
Oberflächen-Inspektionssystem
Oberflächen-Inspektionssystem
Technische Informationen
Materialdaten
Max. Geschwindigkeit:
bis zu 1.900 m/min für 0,4 mm Längenauflösung
Breite:
nicht limitiert
Länge:
Keine Einschränkung / kontinuierliche Inspektion möglich
Messsystemdaten
Konfiguration:
2D-Hellfeld und Dunkelfeld
Installationstyp:
fest installiert oder verfahrbarer C-Rahmen
Kameratyp:
CMOS Zeilenkamera / Gigabit Ethernet / Camera Link
Beleuchtungsquelle:
High Power LED 450nm / 630 nm / weiß
größer 500 W/m² bei 500 mm Arbeitsdistanz
Typische Arbeitsdistanz:
400-1.500 mm
Leistungsdaten
Chipgröße / Framerate:
bis zu 8.192 Pixel / bis zu 140 kHz
Typische Auflösung:
0,2 mm x 0,2 mm / 0,2 mm x 0,4 mm
Bildspeicher:
Oberflächenfehler in voller Auflösung
voller Hintergrund in reduzierter Auflösung
kurze Intervalle können in voller Auflösung gespeichert werden
Bildspeicherplatz:
typischerweise 60 TB
Bilddatei:
offenes, verlustfrei komprimiertes TIFF-Format
Datenbasis:
Microsoft SQL Server
Auswertung
Klassifikation:
merkmalbasierte, vortrainierte KI
parallele Klassifikation mit mehreren Klassifikatoren
Merkmale für die Klassifizierung:
> 400 Merkmalswerte pro Defekt (unter Verwendung beider Bilder)
Qualitätsmanagement:
regelbasierte Qualitätseinstufung
Messen.Inspizieren.Detektieren.
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