Kr
Beschichtungs-messsystem
Beschichtungs-messsystem
Das Kr Beschichtungs-Messsystem dient der kontinuierlichen, berührungslosen Messung von Lackauflagen, unter Einsatz des auf Isotopen basierenden Rückstreuverfahrens.
Die Anzahl der benötigten Messköpfe ist dabei abhängig von der Art der Anwendung (nass oder trocken). Das traversierende Messsystem erfasst die einzelnen Beschichtungsauflagen (Primer & Finisher) über die gesamte Bandbreite.
Hierfür können die charakteristischen Eigenschaften unterschiedlicher Lacksorten in einer entsprechenden Datenbank gespeichert werden.
Lackschichtdickenmessung
Qualitätskontrolle
Lackdatenbank
optional:
– Lackauflagenregelung
Besondere Merkmale
- schnelle und akkurate Messungen
- hohe Reproduzierbarkeit der Messwerte
- modular aufgebauter Messkopf
- geringe Wartungskosten
- höchste Verfügbarkeit
- schneller Return of Investment
- Einsparung von Produktionskosten (geringerer Lackverbrauch)
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KR
Beschichtungs-messsystem
Beschichtungs-messsystem
Technische Informationen
Materialdaten
Trägermaterial:
Aluminium
Dicke Trägermaterial (Aluminium)
0,2 bis 3 mm
Breite:
600 bis 2.100 mm
Beschichtungsmaterial:
Lacke (Epoxy, Acryd, Acrylat, Acryl, Polyester, Polyurethan, HDP, PVDF, Plastisol, Klarlacke)
Typischer Auflagenbereich:
5,0 – 400,0 μm (trocken)
Messsystemdaten
Messsystemtyp:
Traverse mit einem Messkopf (traversierend)
Strahlenquelle:
Kr-85 Strahler Aktivität von 7,4 GBq
Detektortyp:
KG 90
Messfleckgröße:
Ø 120 mm
Typische Arbeitsdistanz:
ca. 30 mm
Traversiergeschwindigkeit:
0,5 bis 8 m/min
Messdynamik
Abtastrate Messumformer:
10 ms
Messzeitkonstante (analog) TCA:
200 ms
Gesamtzeitkonstante:
10 ms
Messwertausgabe und -verarbeitung:
200 – 2.000 ms (einstellbar)
Messgenauigkeit (2 Sigma-Werte)
Kurzzeitdrift, 4h (IEC 61336):
< ± 0,2%, nicht besser als < ± 0,1μm
Reproduzierbarkeit:
5 – 25 μm Auflagendicke < ± 0,3 μm
25 – 50 μm Auflagendicke < ± 0,5 μm
50 – 100 μm Auflagendicke < ± 1,0 μm
100 – 200 μm Auflagendicke < ±2,0 μm
200 -400 μm Auflagendicke < ± 4,0 μm
Statistisches Rauschen (2σ): (wirksame Zeitkonstante TCE = 2.000 ms, TCE=TCA+TCD)
5 – 25 μm Auflagendicke < ± 0,1 μm
25 – 50 μm Auflagendicke < ± 0,2 μm
50-100 μm Auflagendicke < ± 1,0 μm
bei 100.0 – 200.0 μm Auflagendicke
bei 200.0 – 400.0 μm Auflagendicke
Messen.Inspizieren.Detektieren.
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